WBE-LR3/高低溫熱衝擊箱
WBE高低溫熱衝擊箱： 此測試測量試樣在高溫和低溫下突然溫度變化時的性能。廣泛應用於電路板和電子元件等產品中，是識別和消除產品工藝和組件引起的早期故障的有效方法。
產品描述：
用於測試材料結構或複合材料在瞬間承受連續極高低溫環境的程度，從而在最短的時間內測試熱脹冷縮引起的化學變化或物理損傷。
應用：
半導體晶元、科研機構、質檢、新能源、光電通信、航太軍工、汽車工業、液晶顯示器、醫療等科技產業。
測試標準：
GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、JESD22-A106B、MIL-STD-810G、MIL-STD-202G
產品特點：
1、 三腔衝擊法，蓄熱衝擊法，通過打開/關閉阻尼器控制溫度轉換。
2. 試樣保持靜止，消除機械衝擊，方便通電、連接電纜進行測試。
3、 溫度衝擊模式：高溫→室溫→低溫;低溫→室溫→高溫;低溫→高溫;室溫暴露測試也是可能的。
4. 可自訂衝擊模式包括兩腔（籃子）、水平左右移動以及根據測試要求和樣品量進行的浸入式衝擊方式。
5. 適用於溫度循環、熱衝擊、熱應力篩選、性能測試等可靠性測試。
6. 採用電子膨脹閥技術，節能超過45%。
