半導體

 

台式冷熱衝擊試驗箱

半導體行業因其產品集成度高、應用場景苛刻等問題，對可靠性測試設備的需求迫切。在汽車電子、航空航天設備等場景中，晶元需要承受極端溫度（-55°C~125°C）、濕度、振動等環境，性能不穩定會導致設備故障。檢測設備可類比高溫高濕（如85°C/85%RH）、溫度迴圈（-40°C~125°C）、鹽霧腐蝕等工況，提前發現封裝開裂、焊點失效、氧化層擊穿等缺陷。例如，HAST（Highly Accelerated Stress Test）用於驗證晶片的防潮性，振動測試用於檢測內部引腳鬆動。同時，設備需要滿足 JEDEC 和 AEC-Q 等行業標準，以保證晶片在 5G、物聯網等領域的長期可靠運行，避免因故障造成的巨大召回損失。