WBE-9088B / 半導體推拉式試驗機
半導體推拉試驗機又稱引線鍵合強度測試儀、剪切力測試儀或多功能推拉測試儀，是鍵合、SMT、微電子製造的重要動態力學測試儀器。廣泛用於半導體封裝、光通信器件封裝、LED封裝、軍用元件的故障分析和可靠性測試。
半導體推拉試驗機 又稱引線鍵合強度測試儀或剪切力測試儀，廣泛應用於微電子產業和半導體封裝，用於故障分析和可靠性測試。這些測試包括測試微電子引線鍵合後的引線鍵合強度，測試焊點與基板表面之間的附著力，以及對焊球進行重複推疲勞測試（包括內引線拉力測試、微焊點推力測試、金球推力測試、芯片剪切力測試、SMT焊料元件推力測試和整體BGA矩陣推力測試）。
應用領域：
廣泛應用於半導體封裝、光通訊元件封裝、LED封裝、軍工元件產品或材料的故障分析和可靠性測試。
測試標準：
產品特點：
1. 能夠執行所有拉伸和剪切（推）應用。
2.能夠測試鍵合線強度拉力（WP）、焊點推力（BS）、芯片剪切（DS）、下壓力（DP）和 拉拔力（TP）。
3. 一體式自動旋轉模組交換，可單獨或組合選擇 1 至 6 個模組（推、剪、 張、拉、拉、下壓力）。
4. 每個感測器均具有獨立的防碰撞和過載保護系統，以防止因操作錯誤而導致精度 偏差。
5. 提供可客製化的精密夾具和測試工具（耗材）。
