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長行程推拉力測試儀也稱為長行程推拉力測試儀。它廣泛用於微電子工業和半導體封裝，用於故障分析和可靠性測試。如微電子引線鍵合后的導線焊接強度測試、焊點與基板表面附著力測試、錫球重複推力疲勞測試（內導程拉力測試、微焊點推力測試、金球推力測試、晶元剪切力測試、SMT焊接元件推力測試、BGA矩陣整體推力測試）。