雙層 HAST 高壓加速老化試驗箱

雙層 HAST 高壓加速老化試驗箱：用於評估電子元件、PCB、晶片產品等在高溫、高濕、高壓條件下的耐環境性。通過加速失效過程，加速因數在幾十到幾百倍之間。這種類型的極速模擬可靠性測試便於確定產品或設備的極端工況，更容易提前發現產品失效模式，縮短產品或系統的壽命測試時間，從而為大規模生產驗證贏得時間。

應用領域：
印刷電路板、半導體晶元、矽橡膠、陶瓷、高分子材料......

測試標準：
AEC Q101
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的穩定濕熱
IEC60068-2-66-1994 環境測試。第 2-66 部分：測試方法。測試 Cx：穩定的濕熱
JESD22-A100 循環溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101 穩態溫度、濕度/偏置、壽命測試（溫度、濕度、偏置壽命）
JESD22-A102 高壓蒸煮試驗（加速防潮性）
JESD22-A108 溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST 高加速度溫濕度應力測試
JESD22-A118 溫度和濕度無偏高加速度應力測試 UHAST（無偏不飽和高壓蒸汽）

產品特點：
1、採用上下雙槽設計，節省實驗室空間，一機價格=兩機價值，降低設備使用成本。
2.單屏雙控，減少複雜繁瑣的設置，滿足不同樣品的同時檢測，提高檢測效率。
3. 96 路偏置端子設計，滿足晶片偏置測試。
4、產品相容HAST不飽和高壓蒸汽恆濕恆熱試驗和PCT飽和高壓蒸汽試驗。
5、自動腔門設計，按鈕控制腔門開閉，內置壓力保護。