HAST 高壓加速老化試驗箱

HAST高壓加速老化試驗箱：用於評價電子元件、PCB、晶元產品等在高溫、高濕、高壓條件下的耐環境性。通過加速失效過程，加速因數在幾十到幾百倍之間。這種類型的極速模擬可靠性測試便於確定產品或設備的極端工況，更容易提前發現產品失效模式，縮短產品或系統的壽命測試時間，從而為大規模生產驗證贏得時間。

應用領域：
印刷電路板、半導體晶元、矽橡膠、陶瓷、高分子材料......

測試標準：
AEC Q101
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的穩定濕熱
IEC60068-2-66-1994 環境測試。第 2-66 部分：測試方法。測試 Cx：穩定的濕熱
JESD22-A100 循環溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101 穩態溫度、濕度/偏置、壽命測試（溫度、濕度、偏置壽命）
JESD22-A102 高壓蒸煮試驗（加速防潮性）
JESD22-A108 溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST 高加速溫度和濕度應力測試
JESD22-A118 溫度和濕度無偏高加速應力測試 UHAST（無偏電壓不飽和高壓蒸汽）

產品特點：
1.產品集成了高溫高濕 85°C/85%R.H、95°C/95%R.H、CT 和 HAST 功能。
2. 超長實驗運行時間，設備可連續運行400+小時。
3. 配備偏置端子（導電螺釘 M6：電壓 0~380V;最大耐壓 2000V;電流 0~100A）。
4、快速排氣模式，試驗前將冷空氣排空;試驗期間的冷空氣排放設計（試驗筒中的排氣）提高了壓力穩定性和再現性。