HAST

HAST高壓加速老化試驗箱也稱為高加速壽命老化試驗箱。用於評價電子元件、PCB、晶元產品等在高溫、高濕、高壓條件下的耐環境性。通過加速失效過程，加速因數在幾十到幾百倍之間。這種極速模擬可靠性測試便於確定產品或器件的極端工況，更容易提前發現產品失效模式，縮短產品或系統的壽命測試時間，從而為量產驗證贏得時間。

雙層 HAST 高壓加速老化試驗箱也稱為兩槽高加速壽命老化試驗箱。它用於評估產品或材料在潮濕環境中的可靠性。它是通過在高度控制的壓力容器中設置和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，以評估產品的密封性、吸濕性和老化性能。